KETT 統計型膜厚計373系列

產品介紹 / 膜厚計系列

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規格介紹:
電磁膜厚計LE-373/渦電流膜厚計LH-373/雙功能膜厚計LZ-373
LE-373用於鋼.鐵等磁性金屬物上的電鍍(電解鎳除外)及非磁性被膜膜厚量測 。
LH-373用於鋁合金.不銹鋼等非磁性金屬物上的絕緣 被膜膜厚量測,對於鋁合金上的陽極或硬陽處理等薄膜, 皆可精確量測。
LZ-373適用於磁性金屬上的非磁性被膜及非磁性金屬 上的絕緣被膜膜厚量測,為雙功能膜厚計.適用於多種 素材及多樣被膜厚度量測,是適合工作現場使用的膜厚計。

詳細介紹:
日本KETT LZ-373兩用膜厚計，具備獨立式探測頭，可以用來測定磁性體及非磁性金屬物上的被膜厚度量測。LZ-373兩用膜厚計包含了電磁膜厚計LE-373及渦電流膜厚計LH-373的所有功能，可針對多樣的素材、多樣的被膜量測，例如：鋅、硬鉻、化學鎳、塗裝、烤漆、電著、陽極處理、皮膜處理、鐵氟龍、砝瑯、達可锈、各種非金屬被膜等，為最適合於現場使用的膜厚測定儀。

LZ-373膜厚計是電子產業最信賴的膜厚計，無論是陽極處理、各種零件的表面處理都可提供非常良好的測量結果。

型號

LZ-373

測定方式

電磁誘導／渦電流式兩用

測定對象

磁性體上的非磁性被膜及非磁性金屬上的絕緣被膜

測定範圍

電磁誘導式：0~2500um或99.0mils

渦電流式：0~1200um或47.0mils

測定精度

50um以下：±1um；50um以上1000um以下：±2%

1000um以上：±3%

最小解析

100um以下：0.1um；100um以上：1um

符合規範

電磁誘導式：JIS K5600-1-7、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840、BS 3900-C5 ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376

渦電流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840、BS 3900-C5、ASTM D7091-5、ASTM E376

記憶容量

約39,000點

檢量曲線

具100條檢量曲線記憶容量（電磁誘導式50條；渦電流式50條）

測頭型式

一點接觸定壓式（LEP-J、LHP-J）

顯示方式

具背光式LCD數值顯示，最小解析0.1um

外部輸出

個人電腦(USB & RS-232C)

使用電源

單3鹼性電池x4只

消費電力

80mW(背光關閉時)

電池壽命

約100小時(背光關閉、連續使用)

操作溫度

0~40℃

附加機能

檢量曲線選擇、基體校零、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統計計算、選擇顯示、日期時間、自動關閉時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號、測定方式、維修模式

尺寸重量

75(W)x145(D)x31(H)mm、0.34kg

標準附件

校正標準片x6片、標準片盒子、鐵素材、鋁素材、曲面固定器、攜帶皮套組、鹼性電池x4只

選購配件

校正標準片、LW-990測定台、電腦傳輸線、RS-232C & USB轉換線、LDL-03資料管理軟體